Physique et applications de la microscopie avancée - 4PMTAMA2

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Volumes horaires
- CM : 10.0
- TD : 4.0
- TP : 8.0
- Projet : 0
- Stage : 0
Crédits ECTS : 3.0

Objectifs

Atteindre une compréhension générale des techniques de microscopie par sonde locale ainsi que leurs principes opératoires physiques.
Comprendre certains phénomènes physiques qui comptent parmi les principales applications des microscopies par sonde locale.

Contact Hermann SELLIER, Clemens WINKELMANN

Contenu

Partie I : Microscopie à effet tunnel et applications. Instrumentation des microscopies par sonde locale.
Chapitre I : Physique de l'effet tunnel
Chapitre II : Instrumentation du STM
Chapitre III : Morceaux choisis d'applications du STM

Partie II : Microscopie par force atomique et techniques associées
Chapitre I : Principes de l'AFM
Chapitre II : Modes d'imagerie
Chapitre III : Mode spectroscopique
Chapitre IV : Introduction aux microscopies à force électrostatique (EFM, KPFM,...)
Chapitre V : L'AFM comme un outil de manipulation local

Prérequis

Physique quantique, physique du solide

Contrôles des connaissances

Semestre 8 - L'examen existe uniquement en anglais