Characterization - Nanotech Labs

Updated on July 20, 2009

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Lab C1: Electrical characterization of MOS capacitors and diode, and pressure sensors

Lab C2: Electrical characterization of NMOS transistors

Lab C3: Electrical characterization of submicron transistors

Lab C4: Characterization of MEMS

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Date of update July 20, 2009

Grenoble INP
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